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比表面積及微孔

微孔分析儀高精度微孔檢測(cè)

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BSD-PS比表面及孔隙率測(cè)定儀

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比表面及孔隙率測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PS比表面及孔隙率測(cè)試儀

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BSD-PM高精度微孔檢測(cè)

更新時(shí)間：2024-10-25

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高精度微孔檢測(cè)儀

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更新時(shí)間：2024-10-25

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